LA TECNICA XPS: UN SUPPORTO ALLE ANALISI DELLE SUPERFICI LEGNOSE. IL CASO DEL LEGNO DI CERRO SOTTOPOSTO A RAGGI UV-C
Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2014
Abstract:
L’analisi XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) unitamente ad altre tecniche di spettroscopia,
come l’IR a trasformata di Fourier (FTIR), consente di verificare il cambiamento nella
composizione chimica dei campioni in esame. In particolare, la spettroscopia fotoelettronica a
raggi X permette di sondare la superficie dei materiali, comprendere le modifiche chimiche su di
essa avvenute, individuare gli elementi chimici che la compongono e, inoltre, il loro stato di
ossidazione. Il trattamento con raggi UV è uno dei metodi utilizzato per riprodurre in laboratorio
gli effetti di lungo termine che si hanno sulla superficie del materiale legnoso a seguito
dell’esposizione solare. Lo scopo di questo studio è stato quello di produrre artificialmente, con
l’ausilio di una lampada UV-C, gli effetti che le radiazioni UV hanno sul legno di cerro (Quercus
cerris L.) e di valutare gli eventuali cambiamenti a livello chimico con l’uso della tecnica XPS.
L’analisi dei risultati indica che la radiazione UV-C causa cambiamenti irreversibili nella
composizione chimica dei campioni legnosi attraverso fenomeni di foto-ossidazione e fotodegradazione.
Tipologia CRIS:
04.01 - Contributo in atti di convegno
Keywords:
legno; XPS; analisi di superficie; composizione chimica; degradazione
Elenco autori:
Cetera, Paola; Lovaglio, Teresa; Todaro, Luigi
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Titolo del libro:
PROCEEDINGS OF THE SECOND INTERNATIONAL CONGRESS OF SILVICULTURE