A Deep Convolutional Autoencoder-Based Approach for Anomaly Detection With Industrial, Non-Images, 2-Dimensional Data: A Semiconductor Manufacturing Case Study
Articolo
Data di Pubblicazione:
2022
Tipologia CRIS:
01.01 - Articolo in rivista
Elenco autori:
Maggipinto, Marco; Beghi, Alessandro; Susto, Gian Antonio
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